瑞士學者C. Jaeggi等人以95%~97%硫酸和85%磷酸2種溶液作為電解液進行純鈦帶（1 mm厚）的陽極氧化。采用拉曼光譜、透射電鏡分析膜層的微結構；采用輝光放電光發射譜分析化學元素沿膜層深度的分布情況。在前期工作中已研究了這2種電解液中生成的陽極氧化膜，并對他們的生長和化學成分進行了對比研究。本次工作提出基于早期生長的陽極氧化膜微結構的生長模型，目的是明確來自電解液的內含物與穩定的鈦氧化物非晶開始結晶化之間的關系。研究結果表明，氧化層在朝內和朝外2個方向的生長過程中，電解液內含物進入氧化層。這些內含物大多數是硫酸鹽和磷酸鹽，它們與氧化物層內部的初始結晶有關系，并對鈦的氧化物非晶穩定性有影響。在20 V陽極氧化電壓條件下，硫酸電解液中的含硫內含物遷移到金屬/氧化物界面附近穩定氧化物的非晶部分，而膜的中間和外部層顯示為銳鈦礦相；磷酸電解液中的含磷內含物幾乎對整層氧化物非晶的穩定性起作用，僅僅在P含量極低的區域，如氧化物/金屬的界面處，生成極少量的納米晶；無論哪種電解液中，所形成的氧化物的中間部分均觀察到了納米尺寸的氧化泡。在此前的文獻中，還沒有關于在鈦陽極氧化物內部甚至是沒有晶體存在的區域形成氧氣泡的報道。